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使用便攜x射線熒光光譜儀會對被檢測物造成傷害嗎？

更新時間：2022-03-03 點擊次數：2032

　　便攜x射線熒光光譜儀是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。與所有的分析儀器一樣，在做出購買決定前應當考慮許多因素，例如應用領域等細節。所以，下面將著重討論在選擇一套用于測量薄層材料厚度的X射線熒光光譜儀體系時應當考慮的一些重要因素，討論的對象主要為能量色散X射線熒光光譜儀體系（EDXRF），這種體系如今已經具有許多不同的配置規格，既有臺式配置的，又有便攜的、手持式配置的。

　　使用該儀器會對被檢測物造成傷害嗎？

　　正確使用便攜x射線熒光光譜儀一般不會對被測物造成傷害的，X射線是可控的，不會輕易脫離控制的。這邊比較推薦奧林巴斯X射線熒光光譜儀，是由無損檢測元素組成的技術，對產品的損傷幾乎為零，所以在操作的時候*不用擔心。設備使用起來也很不錯，通過可選無線局域網和藍牙功能，可以連接到云或其他設備，并且還具有嵌入式GPS，能將檢測結果與精準的GPS坐標配對，以此來記錄并繪制元素的位置。

　　X射線熒光光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素，具體而言，從鈉元素（原子序數Z=11）到鈾元素（原子序數Z=92）都可以利用這種技術進行檢測分析。但是對于原子序數較低的元素（鈦元素Ti，Z=22以下），空氣會對檢測結果產生較大影響；由低原子序數元素產生的熒光值通常更低，并且樣品基體中的其它元素有可能會吸收低原子序數元素的能量輻射。

　　通常情況下，用于提高低原子序數元素的檢測靈敏度的方法主要為將儀器的樣品室抽成真空環境或者以氦氣(He)沖洗樣品室。

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