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發掘地下寶藏 | XRF 分析儀在貴金屬勘探中的應用
更新時間：2025-01-06 點擊次數：1519
隨著全球對貴金屬需求的增加，礦業公司正在尋找更快、更經濟的方法來探測和評估這些珍貴資源。繼上期介紹了朗鐸科技為礦業和礦物加工行業提供全方位解決方案后，本期我們將深入探討這項便攜技術如何在貴金屬勘探中實現突破。
場景重現：精準定位貴金屬
貴金屬，如金、銀和鉑族元素(PGE)，通常在地下深處難以觸及的地方蘊藏。傳統的勘探方法不僅耗時而且成本高昂。
然而，通過使用尼通手持 XRF 分析儀，地質學家現在可以快速識別含有這些貴金屬的區域，即使是在濃度極低的情況下。
1、應用實例
在南非布什維爾德雜巖體，包括梅倫斯基礁和上組2礁（UG2），其中賦存了大量的PGE。這些地層主要由輝石巖、斜長巖和變性橄欖巖組成，典型的PGE品位為3-10 g/t。為了研究手持 XRF 分析儀對PGE勘探的應用，沿地層剖面采集了63個樣品。然后由商業實驗室 (SGS-Lakefield) 使用ICP分析樣品。使用尼通手持 XRF 分析儀對這些樣品進行了兩種形式的分析（直接照射樣品和粉碎樣品-漿料）。
圖1.南非布什維爾德雜巖體中目標元素(Pt、Pd和Au)和探途元素(Cu和Ni)的地層分布表明，使用尼通手持 XRF 分析儀進行的Cu和Ni分析可用于定位Pt、Pd 和 Au礦化帶。
2、結果
通過實驗室分析發現探途元素Ni和Cu與目標貴金屬Pt、Pd和Au具有顯著的正相關性。這表明Ni和Cu可以有效地用作指示貴金屬位置的探途元素。通過使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析儀對這些探途元素進行分析，結果證實了它們能準確地定位含有高濃度Pt、Pd和Au的地層。
圖2.使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析儀分析PGE探途元素。
尼通 XL3t 手持 XRF 分析儀
產品特點
標準分析范圍：從鎂到鈾的多達30余種元素（根據應用不同而異）。
用于手持 XRF 分析的功能更加強大的X射線管。
一鍵式測定——極易使用，非專業技術人員也能很快掌握。
面向實際工業環境的耐用型設計。
提供原位無損的即時分析。
完整密封，防水防塵。
符合人體工程學設計。
顯示屏在強日光下仍清晰可讀。
提供多種語言選擇。
彩色觸摸屏顯示器。
本文結論
隨著金屬價值的增長和礦物品位的降低，手持 XRF 技術證實了其在提升貴金屬勘探效率和降低成本中的關鍵作用。使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析儀能在野外快速精準定位貴金屬，顯著提高決策速度和精度。
這種實時分析技術不僅節省時間和資源，還提升了現場操作的經濟效益，為貴金屬勘探提供了一種高效的解決方案。
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