日本cew光學(xué)微缺陷檢測設(shè)備CEW 光學(xué)測量儀

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更新日期：2024-03-22

簡要描述：

日本cew光學(xué)微缺陷檢測設(shè)備CEW
光學(xué)分辨率1.8μm，速度檢測！
用于基板和金屬表面的缺陷檢測！

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品種類	臺(tái)式	數(shù)顯功能	有
溫控功能	無	產(chǎn)地	進(jìn)口

日本cew光學(xué)微缺陷檢測設(shè)備CEW

光學(xué)分辨率1.8μm，速度檢測！

用于基板和金屬表面的缺陷檢測！

概述

使用高分辨率相機(jī)和高精度 XY 載物臺(tái)的二維檢測系統(tǒng)。
適用于光學(xué)薄膜、片材、觸控面板等表面劃痕、異物、缺陷的檢測。
憑借 1.8 μm 的光學(xué)分辨率，可以進(jìn)行超高清檢測。
它還可以測量尺寸和檢查二維沖壓產(chǎn)品。

特征

自動(dòng)保存檢測數(shù)據(jù)和圖像
攝像頭像素：900萬像素
高光學(xué)分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精細(xì)的檢測點(diǎn)。
適合檢查觸摸面板的外圍電極和印刷電路板上的精細(xì)布線是否有斷線和短路。

用法

用于檢查觸摸面板和異物等缺陷！

觸控面板周邊電極缺陷檢測
板材表面劃傷和異物檢查
基板缺陷檢查

系統(tǒng)配置

日本cew光學(xué)微缺陷檢測設(shè)備CEW

光學(xué)分辨率1.8μm，速度檢測！

用于基板和金屬表面的缺陷檢測！

概述

使用高分辨率相機(jī)和高精度 XY 載物臺(tái)的二維檢測系統(tǒng)。
適用于光學(xué)薄膜、片材、觸控面板等表面劃痕、異物、缺陷的檢測。
憑借 1.8 μm 的光學(xué)分辨率，可以進(jìn)行超高清檢測。
它還可以測量尺寸和檢查二維沖壓產(chǎn)品。

特征

自動(dòng)保存檢測數(shù)據(jù)和圖像
攝像頭像素：900萬像素
高光學(xué)分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精細(xì)的檢測點(diǎn)。
適合檢查觸摸面板的外圍電極和印刷電路板上的精細(xì)布線是否有斷線和短路。

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日本cew光學(xué)微缺陷檢測設(shè)備CEW 光學(xué)測量儀

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